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正文 第四章 优化MOSFET模型(第2页/共3页)

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从1985年发表该论文以来,一直有各种研究试图改进该模型。

94年的时候有试图通过薄氮化氧化物来优化该模型的,95年有通过电子的热再发射来优化。

但是这些研究都是通过物质层面,通过改变晶体管材料,来实现优化osfet晶体管的目的。

迟迟没有从数学模型层面出发,很好优化胡正明的osfet模型的结果。

要知道此时离1985年过去了十三年。

远在旧金山湾区的胡正明教授,每天早上和往常一样,先查阅一遍自己的邮箱。

电子邮箱已经有十来年的历史,这十来年里,受益于电子邮箱,来自世界各地的科学家们交流变得更加频繁。

对于胡正明来说,每天到办公室的第一件事,也从查收纸质邮件,变成了查收电子邮件。

一封名为osfet模型优化的邮件,很快吸引了他的注意。

毕竟作为该模型的创造者,胡正明本人也希望能够进一步优化它。

可惜不管是他本人,还是其他科学家,都没有谁能够从数学模型的角度,对osfet进行优化。

“这种临界能量和观察到的时间依赖性可以用涉及 sis h键断裂的物理模型来解释。器件寿命与 i-2sub 9 i1d9Δv15t成正比。如果由于 l小或 vd大等原因导致 isub变大,则t会变小。因此,isub(可能还有光发射)是t的有力预测因子。

已发现比例常数因不同技术而异,相差 100倍,这为未来通过电介质界面技术的改进提供了显着提高可靠性的希望。一个简单的物理模型可以将沟道场 e与所有器件参数和偏置电压相关联。描述了它在解释和指导热电子缩放中的用途。”

因为胡正明构建的数学模型很简单,简单的描绘了osfet退化的本质。

越是简单的模型,越难进行优化。

但是这封邮件,为胡正明提供了一个新的角度来对这个问题进行思考。

优化后的数学模型,能够解释更多的现象,从而对热电子缩放的现象进行更好的监控。

为了看这封邮件,胡正明完全忘了还有咖啡这回事。

他看完核心部分后,再回过头去看了眼是谁发给他的邮件,zhoux,来自燕大的邮件。

“周新?我没听过燕大半导体领域有这么一号人物啊?而且按理来说不应该发论文吗?”胡正明内心很是纳闷。

能够做出这种级别创新的一般来说,不会是什么无名之辈。

胡正明又看了下邮件的最后部分,邮件最后部分表达了希望来他手下读博。

胡正明这下才懂,对方为什么给他发这封邮件。

原来是通过这种方式来吸引他的注意力。

之前他也收到过华国学生寄来类似的邮件,通过表达自己对科研的看法,以及读一些论文之后的想法,试图从他这里获得一封推荐信。

放在二十年后,这叫套磁。

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